光电测微仪

生产环境中的非接触测量

光电测微仪

集质量控制、表面分析和测量于一体的系统。

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滑块
  • 微米_photosec
    每分钟12000个图像,每张图像256个测量值。
  • 可扩展的视觉
    270多个型号
  • 微米_重复性
    实时精确控制
  • 千分尺_变化
    温度和振动补偿
  • 千分尺_精度
    亚微米级精度

计量实验室精度

工件自动对中

符合工业4.0

测量工件在其轴线上的移动或旋转。

自动记录值

自动校准多达20个母版

包括与生产设施对接的Plc。

完全可定制的操作面板

用于生产环境的带温度补偿的高精密光学测微仪。

MICR2-80

VEA光学测微仪有270多种型号,是在生产环境中直接精确测量100%零件的理想解决方案。这些千分尺可以同时进行表面质量控制。

VEA光学千分尺可以安装在任何类型的工厂或生产线上,而不会有精度损失的风险,因为它们有一个简化的校准系统,使得连接光学单元和照明器的预校准支架变得多余。

MICR-100-VD01

工业领域的专业测量技术

VEA光学千分尺作为这些仪器的领先制造商,通过一系列专利技术保证了工业环境下的精度。

  • 带4级热补偿 LTC (实验室热补偿) 可以在生产环境中对温度范围在10°到60°之间的零件进行测量,其精度与计量实验室中的测量精度相同(20°±1°)。
  • 该模块 MSA(微稳定精度) 执行三个基本功能:稳定环境振动,提高测量精度,分析零件的可测量性,提供实时重复性值。
  • 技术的使用 XVR2(扩展虚拟分辨率2 由于日益先进的深度学习技术,可以使用750 Mpixel的卓越分辨率。
  • 电子过滤器 DAF(脏污高级过滤器) 评估沉积在工件上的污垢量,以便产生正确的测量结果或表明工件需要清洁。
  • 自动生成测量轴 使千分尺即使在不对准的部件上也能进行正确的测量。
  • 多主件自动校准 (最多20个),即使不需要专门的操作人员帮助,也能保证千分尺的精度,随着时间的推移。除标准校准块外,被测母样也可用于校准。
  • 照明器a 交错多色光 (白色视觉外观)可以消除一些材料上由于单色光(红、绿、蓝视觉外观)的斑点效应而造成的测量不准确。
  • 一系列特定的算法优化了精度,即使是在不同材料、颜色和表面处理的情况下。
  • 不仅可以用造影灯(背光)测量,还可以用外视灯(正面)和斜面灯测量。

MICR2-42

MICR2-80双光学千分尺截图

旋转盘系统上的光学千分尺MICR2-56。

几种型号的千分尺对您的零件进行了优化,以获得最大的性能。

用于电动机控制的光学千分尺MICR2-120。

我们深知客户的测量部件有一定的形状和尺寸,所以我们设计了几种型号的千分尺,以达到最高的精度和速度。

23个不同的视场,直径从6毫米到300毫米,每个视场有3种不同的形状,圆形、矩形4/3尺寸、矩形2/1尺寸。

所有型号的光学千分尺都采用了双心光学单元,根据用途不同,有4种不同的景深。
微观景深用来观察不同形状的棋子的内部,其Z尺寸相差几十分之一英寸。例如,有孔的物体,通过加工,在其内部产生不同的直径。
低景深与旋转部件一起使用,以获得尽可能高的精度。例如,它用于测量活塞或其他圆柱形物体,即使在大型物体上也具有微米级精度。
中等景深通常用于在皮带上移动的工件或预计在测量轴上会有偏差的工件。
高景深用在200mm高的物体上,可以看到整个高度的缺陷。例如,查看电机钣金包装的凹槽内部,或者空心物体上是否有芯片或其他东西。
总共276种不同的千分尺型号,可以满足任何要求。

每台VEA光学测微仪都有3种不同的测量模式。 静止的工件、旋转的工件、直线运动的工件。.根据不同的模式,千分尺可以优化测量精度,并可以计算圆柱度等三维几何公差。

本公司测微仪的大功率处理单元可处理高达12000幅图像/分钟,每幅图像可测量256次,可存储5000多个不同的产品程序。可以集成材料和表面质量分析模块。
每个处理单元最多可以管理8个读数头,甚至不同类型的读数头。
操作界面完全可以轻松配置,让你感兴趣的数据被突出显示。

带I/O模块的C系列可扩展视觉系统

6 6毫米 ± 0,4 μm ± 0.05 μm
12 12毫米 ± 0,6 μm ± 0.06 μm
18 18毫米 ± 0,9 μm ± 0.08 μm
26 26毫米 ± 1,2 μm ± 0.09 μm
36 36毫米 ± 1.5 μm ± 0,11 μm
42 42毫米 ± 1.8 μm ± 0,12 μm
48 48毫米 ± 2.0 μm ± 0,13 μm
56 56毫米 ± 2,3 μm ± 0,15 μm
64 64毫米 ± 2,6 μm ± 0,17 μm
72 72毫米 ± 2.9 μm ± 0,2 μm
80 80毫米 ± 3.2 μm ± 0,2 μm
90 90毫米 ± 3.5 μm ± 0,2 μm
100 100毫米 ±3.9μm ± 0,2 μm
120 120毫米 ± 4.6 μm ± 0.3 μm
150 150毫米 ± 5.8 μm ± 0.3 μm
190 190毫米 ± 7.2 μm ± 0,4 μm
240 240毫米 ± 9.1 μm ± 0.5 μm
300 300毫米 ± 11.3 μm ± 0,6 μm

集成的PLC允许与任何工业系统连接,从8个输入和8个可自由编程的输出开始,可扩展到128个输入和128个输出。

顶层接口完全符合 "工业4.0 "标准,可使用RS232、USB3、以太网物理端口,可配置或使用TCP-IP、OPC-UA等标准协议。

采用特殊的超级电容UPS,即使在生产线断电的情况下,也能保证信息传输到外部设备,也符合最严格的 "工业4.0 "标准。

进行测量系统分析(MSA)的统计模块,处理均值、方差、标准差、Cg、Cgk等信息。

所有的测量值和统计信息都可以保存在设备上或直接发送到服务器上。

信息格式可由用户完全配置。

安全性得到保证,8个密码分为4级。

生产环境中的应用实例

01v

机械手系统上的双光学测微仪MICR2-100。

02v

机械手系统上的双光学千分尺MICR2-80。

03v

旋转盘系统上的光学千分尺MICR2-56。

04v

用于电动机控制的光学千分尺MICR2-150。

05v

光学千分尺 MICR2-48

06v

MICR2-26轴套控制用光学千分尺

综合测量和质量控制

通常情况下,一个零件的质量不是单单通过测量来定义的,还需要进行美学检查。
所有的VEA千分尺都可以集成各种类型的质量控制和表面分析。
可以检测出筒体、孔隙、不透明、污垢、裂纹、剥落、划痕、有无异物、变形、缺件等一系列缺陷。
这些千分尺也可以综合使用任何类型的照明方式,因此它们不仅可以使用透视光(背光),还可以使用外视光(正面)和斜视光。

光学组

我们的咬合式光学单元采用线性光学结构。
这是一个精确的选择,以达到尽可能高的精度。
我们的实验室测试表明,任何额外的元素都会影响精度。 我们不使用镜子、棱镜或变焦,以避免图像变形,从而降低精度。

安装在校准支架上的咬合式光学装置。

微距旋转表

VEA光学千分尺旋转台设计用于测量360°以上的圆形物体。
这些转台的轴向圆振动公差在几微米的数量级。
工件也可以放置在相对于工作台中心的不准确位置:VEA光学千分尺将自动补偿相对于工作台的同心度不足。
这些表的特殊精度和VEA光学千分尺的特性使得圆柱度、同心度和圆度测量的精度达到微米级。
工作台的电机直接由光学千分尺控制。电机可配置为执行恒速旋转或角位置序列。

低轴向摆动的微米级旋转台

可检查材料

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压铸
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钣金
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机加工金属
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塑胶
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电子产品
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玻璃制品