![\"local](\"https:\/\/vea.it\/wp-content\/uploads\/2020\/07\/lif-sito-1920x387-1.jpg\" "\\"local")
\n\t\t\t\t\t\t\t![\"Micr\u00f3metros_varia\u00e7\u00f5es\"](\"https:\/\/vea.it\/wp-content\/uploads\/2020\/02\/Micrometri_variazioni.png\" "\\"Micr\u00f3metros_varia\u00e7\u00f5es\\"")
\n\t\tCompensa\u00e7\u00e3o t\u00e9rmica<\/li>![\"\u00edcones_vibra\u00e7\u00f5es\"](\"https:\/\/vea.it\/wp-content\/uploads\/2020\/04\/icone_vibrazioni.png\" "\\"\u00edcones_vibra\u00e7\u00f5es\\"")
\n\t\tEstabiliza\u00e7\u00e3o da vibra\u00e7\u00e3o<\/li>![\"Micr\u00f4metros_repetibilidade\"](\"https:\/\/vea.it\/wp-content\/uploads\/2020\/02\/Micrometri_ripetibilit\u00e0.png\" "\\"Micr\u00f4metros_repetibilidade\\"")
\n\t\tRepetibilidade em tempo real e verifica\u00e7\u00e3o de precis\u00e3o<\/li>![\"\u00edcones_de_sujeira\"](\"https:\/\/vea.it\/wp-content\/uploads\/2020\/04\/icone_sporco.png\" "\\"\u00edcones_de_sujeira\\"")
\n\t\tRemo\u00e7\u00e3o digital de sujidade<\/li>![\"Micr\u00f3metros_precis\u00e3o\"](\"https:\/\/vea.it\/wp-content\/uploads\/2020\/02\/Micrometri_precisione.png\" "\\"Micr\u00f3metros_precis\u00e3o\\"")
\n\t\tPrecis\u00e3o microm\u00e9trica<\/li>\t<\/ul>\n\t\t\t\t\t\t\tPrecis\u00e3o laboratorial metrol\u00f3gica<\/p>\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t
Medida 10.000 pcs\/hora<\/p>\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t
Calibra\u00e7\u00e3o autom\u00e1tica<\/p>\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t
N\u00e3o \u00e9 necess\u00e1ria a interven\u00e7\u00e3o do operador<\/p>\t\t\t\t\t\t\n\t
\n\t\tMEDI\u00c7\u00c3O PRECISA NA IND\u00daSTRIA: PRECIS\u00c3O DA METROLOGIA DE LABORAT\u00d3RIO NO AMBIENTE DE PRODU\u00c7\u00c3O\n\t<\/h1>\n\n\t\tConseguir medi\u00e7\u00f5es precisas e r\u00e1pidas no ambiente de produ\u00e7\u00e3o \u00e9 uma realidade da Ind\u00fastria 4.0 que torna uma empresa verdadeiramente competitiva a n\u00edvel internacional.\n\t<\/h2>\n\t
Nos \u00faltimos anos tem havido uma crescente demanda por controle de qualidade e medi\u00e7\u00e3o de 100% na fabrica\u00e7\u00e3o.<\/p>\n
Para muitas ind\u00fastrias, h\u00e1 uma necessidade crescente de garantir que todos os produtos estejam em conformidade com as especifica\u00e7\u00f5es, incentivando a migra\u00e7\u00e3o de um controle de qualidade manual para um controle de qualidade automatizado. A demanda por confiabilidade do produto em PPM (Parts Per Million) torna a amostragem estat\u00edstica no laborat\u00f3rio insuficiente.<\/p>\n
A aplica\u00e7\u00e3o pr\u00e1tica da metrologia sempre encontrou sua casa natural em um ambiente controlado, o laborat\u00f3rio. A instrumenta\u00e7\u00e3o e as tecnologias concebidas para realizar medi\u00e7\u00f5es adaptaram-se a este ambiente, e a simples adapta\u00e7\u00e3o destes instrumentos ao ambiente de produ\u00e7\u00e3o gera frequentemente problemas de fiabilidade.<\/p>\n
Sair do laborat\u00f3rio e entrar diretamente na f\u00e1brica com controles r\u00e1pidos e confi\u00e1veis s\u00f3 \u00e9 poss\u00edvel com novas tecnologias. O principal objectivo \u00e9 obter uma medi\u00e7\u00e3o microm\u00e9trica r\u00e1pida num ambiente de produ\u00e7\u00e3o, portanto num ambiente descontrolado.<\/p>\n
A fim de melhor identificar esta \u00e1rea da tecnologia, o neologismo \"Metrotronics<\/b>\"o resultado da combina\u00e7\u00e3o de metro(logia) e (mecha)tr\u00f4nica.<\/p>\n
O termo Metrotronics<\/b> surge da necessidade de identificar um conjunto de a\u00e7\u00f5es, pensamentos, regras e tecnologias que representam a adapta\u00e7\u00e3o de instrumentos metrol\u00f3gicos para que possam operar direta e efetivamente em um ambiente de produ\u00e7\u00e3o industrial.<\/p>\n
\"A LABELA METROL\u00d3GICA NA F\u00c1BRICA\" \u00e9 a filosofia por detr\u00e1s deste pensamento. \u00c9 necess\u00e1rio ser capaz de criar sistemas de medi\u00e7\u00e3o r\u00e1pidos e autom\u00e1ticos para a ind\u00fastria, com a mesma precis\u00e3o que ter\u00edamos em um laborat\u00f3rio de metrologia.<\/p>\n
\n\t\tAbaixo est\u00e1 uma breve compara\u00e7\u00e3o para entender melhor as raz\u00f5es da diferen\u00e7a de tecnologias no laborat\u00f3rio e no ambiente industrial.\n\t<\/h3>\n\t
NO LABORAT\u00d3RIO<\/p>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t As medi\u00e7\u00f5es precisas s\u00e3o realizadas num laborat\u00f3rio de metrologia sob condi\u00e7\u00f5es controladas de temperatura, humidade e vibra\u00e7\u00e3o.<\/p>\n\t NUM AMBIENTE INDUSTRIAL<\/p>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t As medi\u00e7\u00f5es s\u00e3o realizadas em um ambiente de produ\u00e7\u00e3o em condi\u00e7\u00f5es incontroladas<\/b> de temperatura, humidade e vibra\u00e7\u00e3o.<\/p>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t A medi\u00e7\u00e3o \u00e9 seguida por um operador especializado que prepara as amostras, limpando-as e posicionando-as adequadamente.<\/p>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t A medi\u00e7\u00e3o \u00e9 autom\u00e1tica, n\u00e3o h\u00e1 necessidade de um operador; as pe\u00e7as podem estar sujas e grosseiramente posicionadas.<\/p>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t Uma medi\u00e7\u00e3o precisa leva tempo.<\/p>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t Os tempos de medi\u00e7\u00e3o s\u00e3o muito r\u00e1pidos.<\/p>\n Vibra\u00e7\u00e3o peri\u00f3dica<\/p>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t C\u00e1lculo da repetibilidade em tempo real<\/p>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t Teste de algoritmo de MSA (antes do impacto)<\/p>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t Teste do algoritmo MSA (ap\u00f3s o impacto)<\/p>\n Efeito Speckle com luz verde<\/p>\n Efeito do filtro DAF para remo\u00e7\u00e3o de sujeira<\/p>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t Gera\u00e7\u00e3o autom\u00e1tica do eixo da pe\u00e7a<\/p>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t![\"laborat\u00f3rio](\"https:\/\/vea.it\/wp-content\/uploads\/2020\/07\/lif-lab-01.jpg\" "\\"laborat\u00f3rio")
\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\tVantagens da metrologia no ambiente de produ\u00e7\u00e3o: medi\u00e7\u00e3o precisa em um ambiente industrial, confi\u00e1vel, r\u00e1pida e repet\u00edvel\n\t<\/h3>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n
\n\t\tPrecis\u00e3o laboratorial metrol\u00f3gica em ambiente de produ\u00e7\u00e3o\n\t<\/h2>\n
\n\t\tTEMPERATURA: LTC (Compensa\u00e7\u00e3o T\u00e9rmica Laboratorial)\n\t<\/h3>\n\tUma das principais causas de perda de precis\u00e3o de medi\u00e7\u00e3o em um ambiente industrial \u00e9 devido \u00e0 expans\u00e3o t\u00e9rmica.
\nPor exemplo, um objecto de alum\u00ednio de 42 mm tem um coeficiente de expans\u00e3o de 1 m\u00edcron por grau cent\u00edgrado, pelo que para obter uma medi\u00e7\u00e3o correcta \u00e9 necess\u00e1rio conhecer a temperatura da instrumenta\u00e7\u00e3o, o ambiente e cada objecto individual a medir.
\nO m\u00f3dulo LTC, permite obter a mesma precis\u00e3o que se teria num laborat\u00f3rio de metrologia (20\u00b0 \u00b11\u00b0) mesmo em ambientes de produ\u00e7\u00e3o com temperaturas entre 10\u00b0 e 60\u00b0 por meio de 4 etapas de detec\u00e7\u00e3o.
\nEm apenas 2 cent\u00e9simos de segundo, at\u00e9 4 fontes de temperatura s\u00e3o analisadas e compensadas.\n1) Temperatura ambiente
\n2) a temperatura da pe\u00e7a
\n3. A temperatura do man\u00f3metro em linha
\n4) a temperatura do instrumento de medi\u00e7\u00e3o\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\n\t\tVIBRA\u00c7\u00c3O: MSA (Micro Precis\u00e3o Estabilizada)\n\t<\/h3>\n\tO ambiente de produ\u00e7\u00e3o n\u00e3o est\u00e1 livre de vibra\u00e7\u00f5es de v\u00e1rios tipos e estas afectam significativamente a repetibilidade da medi\u00e7\u00e3o dos instrumentos.
\nNa verdade, grande parte da instrumenta\u00e7\u00e3o atual n\u00e3o fornece informa\u00e7\u00f5es sobre a confiabilidade da medi\u00e7\u00e3o no momento em que ela \u00e9 feita, portanto, em caso de vibra\u00e7\u00e3o, \u00e9 poss\u00edvel que uma medi\u00e7\u00e3o incorreta seja detectada mesmo por equipamentos que estejam corretamente calibrados.
\nO m\u00f3dulo Micro Stabilized Accuracy (MSA) analisa o tipo de vibra\u00e7\u00e3o e fornece um valor de medi\u00e7\u00e3o confi\u00e1vel.
\nO algoritmo MSA que calcula o repetibilidade em tempo real<\/b> estabelece o qu\u00e3o mensur\u00e1vel \u00e9 a pe\u00e7a. Desta forma, voc\u00ea obt\u00e9m a confian\u00e7a de que a medi\u00e7\u00e3o \u00e9 correta no ambiente de produ\u00e7\u00e3o, o que \u00e9 imposs\u00edvel com outros instrumentos. Se for detectada uma situa\u00e7\u00e3o de fraca repetibilidade, por exemplo, a medi\u00e7\u00e3o pode ser repetida.\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\tIPER-RESOLU\u00c7\u00c3O: XVR2 (Resolu\u00e7\u00e3o Virtual Estendida 2)\n\t<\/h3>\n\tAs t\u00e9cnicas de sub-resolu\u00e7\u00e3o permitem aumentar a resolu\u00e7\u00e3o de uma c\u00e2mera, gerando uma matriz de subpixels (neste caso 8 x 8) utilizando diferentes tecnologias.
\nUsando \"aprendizagem profunda controlada\", sub-pixels s\u00e3o gerados a partir da an\u00e1lise de pixels adjacentes com base em modelos pr\u00e9-adquiridos. Na metrologia s\u00e3o usados modelos de aprendizagem particularmente confi\u00e1veis, que s\u00e3o cruzados para evitar que informa\u00e7\u00f5es imprecisas sejam geradas, da\u00ed a express\u00e3o \"aprendizagem profunda\".controlado<\/b> aprendizagem profunda'.
\nOutra tecnologia utilizada nestes micr\u00f3metros \u00e9 a 'pixel shifting', em que s\u00e3o gerados sub-pixels atrav\u00e9s da an\u00e1lise de imagens sequenciais tiradas em diferentes momentos e posi\u00e7\u00f5es.
\nTodas estas tecnologias permitem-nos alcan\u00e7ar a not\u00e1vel resolu\u00e7\u00e3o de 750 Mpixel.\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\tUma parte da imagem processada com t\u00e9cnicas de sub-pixelamento, em amarelo o tamanho real do pixel.
\nA imagem aparece desfocada porque foi ainda mais interpolada para cancelar o efeito quadrado dos sub-pixels.\n\n\t\tABAIXO DO M\u00cdCRON\n\t<\/h3>\n\tAo medir opticamente objectos com resolu\u00e7\u00f5es sub-micron, deparamo-nos com problemas relacionados com o comprimento de onda da luz. Um deles \u00e9 o efeito \"mancha\", que pode ser visto quando se ilumina um objeto com uma fonte de luz monocrom\u00e1tica (com um laser, o efeito tamb\u00e9m \u00e9 evidente a olho nu).
\nA luz monocrom\u00e1tica pode ser reconhecida pela sua cor vermelha clara, verde ou azul.
\nPode-se ver que a luz transmitida n\u00e3o \u00e9 distribu\u00edda, mas \u00e9 composta de picos de intensidade contra um fundo escuro. Este efeito afecta ainda mais a repetibilidade da medi\u00e7\u00e3o e \u00e9 por esta raz\u00e3o que utilizamos uma ilumina\u00e7\u00e3o policrom\u00e1tica especial com mudan\u00e7a de fase onde os comprimentos de onda individuais de que \u00e9 composta n\u00e3o s\u00e3o m\u00faltiplos. A luz policrom\u00e1tica com mudan\u00e7a de fase \u00e9 reconhec\u00edvel pela sua cor branca.
\nO tipo de material a ser medido, sua colora\u00e7\u00e3o e acabamento superficial podem gerar pequenas imprecis\u00f5es. Da\u00ed a necessidade de criar uma s\u00e9rie de algoritmos capazes de compensar esta situa\u00e7\u00e3o.\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\tLIMPEZA: DAF (Dirty Advanced Filter)\n\t<\/h3>\n\tEncontrar pe\u00e7as limpas no ambiente de produ\u00e7\u00e3o n\u00e3o \u00e9 uma conclus\u00e3o inevit\u00e1vel, mas essencial para otimizar a medi\u00e7\u00e3o na ind\u00fastria. O DAF electr\u00f3nico (Dirty Advanced Filter) permite detectar a presen\u00e7a de corpos estranhos, tanto s\u00f3lidos como l\u00edquidos.
\nA sujidade que \u00e9 reconhecida como tal \u00e9 filtrada, melhorando a precis\u00e3o da medi\u00e7\u00e3o.
\nSe a extens\u00e3o da sujidade for tal que a medi\u00e7\u00e3o n\u00e3o seja confi\u00e1vel, o algoritmo avalia a mensurabilidade real da pe\u00e7a, o que pode gerar uma rejei\u00e7\u00e3o de pr\u00e9-decis\u00e3o ou um pedido de medi\u00e7\u00e3o posterior ap\u00f3s a limpeza mec\u00e2nica.\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\n\t\tCORRE\u00c7\u00c3O DE POSICIONAMENTO\n\t<\/h3>\n\tOs sistemas autom\u00e1ticos nem sempre t\u00eam a capacidade de posicionar as pe\u00e7as com precis\u00e3o, mesmo para reduzir o tempo de manuseio, portanto, para obter medi\u00e7\u00f5es precisas \u00e9 necess\u00e1rio que o sistema calcule automaticamente o eixo da pe\u00e7a.
\nA gera\u00e7\u00e3o do eixo da pe\u00e7a \u00e9 configur\u00e1vel e permite a adapta\u00e7\u00e3o de todas as dimens\u00f5es. \u00c9 poss\u00edvel gerar mais de um eixo.\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\n\t\tAUTO-CALIBRA\u00c7\u00c3O\n\t<\/h3>\n\tUm instrumento de medi\u00e7\u00e3o que fornece valores imprecisos \u00e9 sempre um gerador de problemas insidiosos. Os sistemas de medi\u00e7\u00e3o em ambientes industriais s\u00e3o muitas vezes mais suscept\u00edveis a altera\u00e7\u00f5es na precis\u00e3o.
\nOs micr\u00f4metros VEA permitem realizar a calibra\u00e7\u00e3o autom\u00e1tica ou pelo menos notar uma calibra\u00e7\u00e3o incorreta. Dois modos de calibra\u00e7\u00e3o podem ser escolhidos.
\nAuto-calibra\u00e7\u00e3o em tempo real por refer\u00eancia colocada no campo de vis\u00e3o.
\nCalibra\u00e7\u00e3o autom\u00e1tica multi-mestre peri\u00f3dica (at\u00e9 20), na qual todos os par\u00e2metros de calibra\u00e7\u00e3o s\u00e3o ajustados em uma s\u00e9rie de mestres de refer\u00eancia.
\nOs mestres podem ser carregados manualmente ou automaticamente.\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t<\/a>\n\t\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t