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部品の100%をチェック

高速で正確

生産環境に合わせた設計

  • マイクロメーターの変化
    熱補償
  • アイコンの振動
    振動安定化
  • マイクロメートル_繰り返し精度
    リアルタイムの再現性と精度チェック
  • 土のアイコン
    デジタル汚れ落とし
  • マイクロメートル_精度
    マイクロメートル精度

計量検査室の精度

10,000個/時間の測定

自動校正

オペレータの介入を必要としない

産業における精密測定:生産環境における労働経済学的精度

生産環境での正確で迅速な測定を得ることは、国際的なレベルで企業を本当に競争力のあるものにしているインダストリー4.0の現実です。

近年、製造業の生産量100%の品質管理や測定が求められるようになってきています。

Per molti settori industriali è sempre più pressante l’esigenza di garantire che la totalità dei prodotti sia conforme alle specifiche, favorendo una migrazione dal controllo qualità manuale a quello automatico. La richiesta di affidabilità del prodotto in PPM (Parti Per Milione) , rende insufficiente il controllo statistico a campione effettuato in laboratorio.

一方,計量学の実用化は,常に制御された環境である実験室に自然の家を見つけてきた。測定を行うために設計された計測器や技術は、この環境に適応してきましたが、実際には、これらの計測器を生産環境に単純に適応させるだけでは、しばしば信頼性の問題が発生します。

研究室を離れて工場に直接入り、高速で信頼性の高い制御を行うことができるのは、新しい技術を使って初めて可能になります。主な目的は、生産環境での高速マイクロメトリック測定を得ることであり、したがって、制御されていない環境での測定です。

この技術分野をより明確にするために、最近、ネオロジズムが作成されました」。メトロトロニクス"metro(logia)と(mecca)tronicaの結合の結果。

用語 メトロトロニクス は,工業生産環境で直接かつ効果的に動作できるように計量器の適応を表す一連の動作,思考,規則及び技術を特定する必要性から生まれた。

"THE METROLOGICAL LAB IN THE FACTORY "は、この思想の背景にある哲学です。工業用の高速自動計測システムを、計測ラボと同じような精度で作成できることが必要です。

以下では、研究室と産業環境における技術の違いの理由をより理解するために、簡単に比較してみました。

ラボラトリーで

正確な測定は、温度、湿度、振動の制御された条件の下で、計測ラボで行われます。

産業環境の中で

の生産環境で測定を行います。 むせいじょうけん 温度、湿度、振動の

測定後は専門のオペレーターが試料を洗浄し、適切な位置に配置するなどして試料を準備します。

測定は自動で行われ、オペレーターは不要で、部品を汚したり、大まかな位置を決めたりすることができます。

正確な測定には時間がかかります。

測定時間が非常に早いです。

生産環境での計測の利点:工業環境での正確な計測、信頼性が高く、高速で再現性のある計測

  • 産業環境下でのすべての部品を測定します。
  • 自動測定の評価は一定です。
  • 業界での測定では、検査室での定期検査の待ち時間によるリジェクト数の減少が見られます。
  • 生産設備の立ち上げにかかる時間を短縮できます。
  • 測定情報を生産設備に直接、リアルタイムでバックデートすることができます。
  • 工業環境での測定は、スポットチェックよりも高い信頼性を持っています。
  • 品質不足のコストを削減することができます。
  • 生産環境で直接測定することで、客観的かつ即時のフィードバックが可能になります。
  • 対策のドリフト情報は予防保全に役立ちます。
  • 製品の品質と価値を高める
  • 企業イメージを高めます。

生産環境における計量ラボの精度

温度:LTC(ラボラトリー・サーマル・コンペンセーション

工業環境下での測定精度低下の主な原因の一つに熱膨張があります。
例えば、42mmのアルミニウムの物体は、摂氏1度ごとに1ミクロンの膨張係数を持っているため、正確な測定を行うには、測定器の温度、環境、および測定される個々の物体の温度を知る必要があります。
LTCモジュールは、4段階の検出により、10°~60°の温度範囲の生産環境でも、計測ラボと同じ精度(20°±1°)を得ることができます。
わずか100分の2秒で、最大4つの温度源を解析し、補正します。

1)周囲温度
2)部分の温度
3. ラインのゲージの温度
4)測定器の温度

振動:MSA(マイクロスタビライズド・アキュラシー

生産環境は様々な種類の振動がないわけではなく、これらが測定器の測定再現性に大きく影響します。
実際、現在の測定器の多くは、測定を行った瞬間の信頼性に関する情報を提供していないため、振動の場合には、正しく校正された測定器であっても、誤った測定が検出される可能性があります。
微小安定化精度(MSA)モジュールは、振動の種類を解析し、信頼性の高い測定値を提供します。
を計算するMSAアルゴリズム リアルタイムでの再現性 部品がどの程度測定可能であるかを確立します。このようにして、他の測定器では不可能な、生産環境での測定が正しいという確信を得ることができます。例えば、再現性が悪い状況が検出された場合には、測定を繰り返すことができる。

周期振動

リアルタイムの再現性計算

MSAアルゴリズムテスト(インパクト前

MSAアルゴリズム試験

IPER-RESOLUTION: XVR2 (拡張仮想解像度2)

サブレゾリューション技術は、異なる技術を使用してサブピクセルのマトリックス(この場合は8 x 8)を生成し、カメラの解像度を向上させることができます。
制御された深層学習」により、事前に取得したモデルに基づいて隣接する画素を解析し、サブピクセルを生成します。計量学では,特に信頼性の高い学習モデルが使用され,不正確な情報が生成されるのを防ぐためにクロスチェックが行われます。統制のとれた ディープラーニング」。
このマイクロメータに使われているもう一つの技術が「ピクセルシフト」で、異なる時間や位置で撮影された連続した画像を解析してサブピクセルを生成しています。
これらすべての技術により、750Mpixelという驚異的な解像度を実現しています。

画像の一部をサブピクセル処理したもので、黄色が実際のピクセルサイズです。
画像がぼやけて見えるのは、サブピクセルの二乗効果を消すためにさらに補間されているからです。

ミクロン以下

ミクロン以下の分解能で光学的に測定する場合、光の波長に関する問題が発生します。その一つが、単色光源で物体を照らすことで強調される「スペックル」効果です(レーザーでは、この効果は肉眼でも明らかです)。
単色光は、はっきりとした赤、緑、青の色をしていることで認識することができます。
透過光が分布しているのではなく、暗い背景に強度のピークがあるように構成されていることが観察されます。この影響はさらに測定の再現性に影響を与え、このために、構成される単一波長が複数ではない特定の千鳥状の多色照明を使用しています。千鳥色の多色光は、白色の発色で認識できます。
測定する材料の種類、その着色や表面の仕上げによって、小さな不正確さが発生することがあります。したがって、このような状況を補うことができる一連のアルゴリズムを作成する必要があります。

緑の光で斑点の効果

洗浄:DAF(Dirty Advanced Filter)

生産環境の中でクリーンな部品を見つけることは、決して必然的な結論ではなく、業界での最適な測定には欠かせないことです。電子式DAF(Dirty Advanced Filter)は、固体と液体の両方の異物の存在を検出することができます。
このように認識された汚れはフィルタリングされ、測定精度が向上します。
汚れの量が測定の信頼性に欠けるような場合、アルゴリズムはその部分の実際の測定可能性を評価し、予防的な偏差や機械的な洗浄後の次の測定の要求を発生させる可能性があります。

DAFフィルターの汚れ除去効果

ポジショニング補正

自動システムは、常に正確に部品を配置する可能性を持っているわけではありません、また、処理時間を短縮するために、正確な測定を得るためには、自動的かつ正確に部品の軸を計算するためのシステムが必要です。
ワーク軸の生成は設定可能で、すべての寸法を適応させることができます。複数の軸を生成する可能性があります。

ワーク軸の自動生成

オートキャリブレーション

不正確な値を提供する測定器は、常に陰湿な問題の発生源となります。工業環境下での測定システムは、精度の変化の影響を受けやすいことが多いです。
VEAマイクロメータを使用することで、自動校正を行うことができますし、少なくとも誤校正に気づくことができます。2つの校正モードを選択することができます。
視野内に配置されたリファレンスによるリアルタイム自動校正。
周期的なマルチマスター自動校正(最大20個)では、すべての校正パラメータが一連のリファレンスマスター上で調整されます。
マスターは、手動または自動でロードすることができます。

リアルタイム自動校正

リアルタイム校正による熱補償

計量検査

私たちの機器は、実験室や工業環境の中で非常に厳しい試験を行ってきました。
比較のために、上記の補償制度を含めたテストと除外したテストを実施しました。

6 六ミリ ± 0,4μm ± 0,05 μm ± 0.7μm ± 0,13μm
12 十二ミリメートル ± 0,6μm ± 0,06 μm ± 0,9μm ± 0,15μm
18 十八ミリ ± 0,9μm ± 0,08 μm ± 1,2μm ± 0,16μm
26 26ミリ ± 1,2μm ± 0,09 μm ± 1,5μm ± 0,18μm
36 三十六ミリ ± 1,5μm ± 0,11μm ± 1,9μm ± 0,20μm
42 四十二ミリメートル ± 1,8μm ± 0,12μm ± 2,2μm ± 0,21μm
48 四十八ミリ ± 2,0 μm ± 0,13μm ± 2,4μm ± 0,22μm
56 五十六ミリ ± 2,3μm ± 0,15μm ± 2,7μm ± 0,24μm
64 六四ミリ ± 2,6μm ± 0,17μm ± 3,1μm ± 0,26μm
72 七十二ミリメートル ± 2,9μm ± 0,2μm ± 3,4μm ± 0,3μm
80 八十ミリ ± 3,2μm ± 0,2μm ± 3,7μm ± 0,3μm
90 九十ミリ ± 3,5μm ± 0,2μm ± 4,2μm ± 0,3μm
100 100ミリ ± 3,9μm ± 0,2μm ± 4,6μm ± 0,3μm
110 110ミリ ± 4,3μm ± 0,3μm ± 5,0 μm ± 0,4μm
120 120ミリ ± 4,6μm ± 0,3μm ± 5,4μm ± 0,4μm
136 136ミリ ± 5,2μm ± 0,3μm ± 6,1μm ± 0,4μm
150 150mm ± 5,8μm ± 0,3μm ± 6,7μm ± 0,4μm
170 170mm ± 6,5μm ± 0,4μm ± 7,5μm ± 0.5μm
190 190ミリ ± 7,2μm ± 0,4μm ± 8,3μm ± 0.5μm
216 216ミリ ± 8,2μm ± 0.5μm ± 9,4μm ± 0,6μm
240 240ミリ ± 9,1μm ± 0.5μm ± 10,4μm ± 0,6μm
268 二百六十八ミリ ± 10,1μm ± 0,6μm ± 11,6μm ± 0.7μm
300 三百ミリ ± 11,3μm ± 0,6μm ± 12,9μm ± 0.8μm

(1) ガラス校正スケールによる測定値で25±2σの測定値
(2) プラグサイズクラス1を校正した測定値で、視野の60%から70%までを25回測定した場合の測定値±2σ

ビデオギャラリー

仕様は予告なく変更することがあります。

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